Grande unité mixte de recherche (UMR 7334) pluridisciplinaire de 300 personnes aux confluents de la physique, de la chimie et de la microélectronique, l’IM2NP possède un large spectre de compétences qui lui permet de relier de nombreux aspects fondamentaux aux applications dans les domaines des matériaux avancés, de l’électronique intégrée et des nanosciences.

L’IM2NP est structurée en 5 départements scientifiques et 17 équipes de recherche qui couvrent l’ensemble de la chaîne de connaissances, des sciences de base aux circuits et systèmes, et de nombreux secteurs applicatifs clés (énergie, transport, sécurité-défense, environnement, communication, santé). Ses domaines d'expertise couvrent la physique du solide, la chimie des matériaux, les dispositifs intégrés, les circuits et systèmes microélectroniques, le traitement du signal et l’instrumentation.

Sous triple tutelle du Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), d’Aix-Marseille Université (AMU) et de l’Université de Toulon (UTLN), l’unité est également associée à l’ISEN Yncréa Méditerranée (Toulon).

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Modeling Diffusion Protons Metallic nanoparticles Capteur de gaz Auto-assemblage Electrochemistry Nickel Transmission electron microscopy Cosmic rays Atmospheric radiation environment Silicon Thin films Complementary cell B2 Semiconducting silicon Gas sensor Bulk Built-In Current Sensor Organic solar cell Physical Sciences Aluminium alloys Ammonia AFM FDTD Gas detection Characterization Low power Diffraction cohérente Solidification Silicium Solar cells Intermetallics Reliability Ion implantation Elasticity Segregation A2 Growth from melt TEM EBSD Alloys Environmental monitoring Photovoltaics Directional solidification Photovoltaïque Variability SEMICONDUCTORS Thin film layers Contraintes Friction stir welding Electron microscopy Local Contact Potential Difference Modélisation Photoluminescence Nucleation Silicides Catalysis Strain Superstructure Nanoparticles Atomic force microscopy Thin film Nanostructures Columnar to equiaxed transition Calorimetry Simulation Laser Laser atom probe tomography Gas sensors Simulations Grain structure X-ray radiography Optical properties DFT EPR Ionic crystal Plasmonics Fiabilité Germanium Heterojunction Kelvin Probe Force Microscopy A1 Directional solidification Photovoltaic Dendrites Electrodeposition Microgravity Intégration Molecular beam epitaxy Non-contact Atomic Force Microscopy Bipolar amplification Atmospheric neutrons Body biasing Microstructure Laser Fault Injection VCO Microelectronics FDSOI CMOS Convection Mechanical properties Atom probe tomography Anisotropy

 

 

 

 

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